产品功能
定位精度、重复定位精度、位移距离测量、速度加速度测量、线性度、直线度、垂直度、平面度、偏摆角、俯仰角、滚动角、角速度、圆形轨迹、微振动测量,还能够测量数控机床回转台的定位精度和重复定位精度等,从而实现定位、校准、控制和补偿。ZLM700主要用于单轴系统的校准和测量,广泛应用于高速动态加工工艺中的机械定位和系统控制。
性能优势
技术参数
型号:ZLM700 | 使用高性能数据处理器AE950 PCI |
He-Ne激光平均波长: | 632.8 nm |
激光稳频精度: | 一小时2x10-9(±0.002ppm) 寿命内2x10-8(±0.02ppm) |
系统精度(0-40℃时): | ±0.4ppm |
光束直径: | 6mm (可选3.2mm) |
激光管突发最大输出功率: | 1mW (激光等级2) |
每束光可测量的轴数: | 1 |
线性测量距离: | 40m,可扩展为120m |
角度测量范围: | ± 15°,20m轴线范围 |
平面度测量范围: | 20m行程 |
直线度测量范围: | ± 5mm,2m或10m行程, 选用角度干涉仪可测30m行程 |
垂直度测量范围: | ± 5mm,2m或10m行程, 30m行程需用角度干涉仪 |
最大速度: | 4m/s,可选16m/s 80rad/s,角速度 |
最大加速: | 无限制 |
最高采样频率: | 内部1MHz,外部40MHz |
预热时间: | 10分钟 |
精度/非线性: | ±0.3nm (角隅反射镜) ±0.1nm (平面反射镜) |
距离测量分辨率: | 0.6nm (角隅反射镜) 0.3nm (平面反射镜) 0.1nm 可选 |
距离测量精度: (20°±0.5°) 使用AUK时 (20°±0.5°) 真空中时 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
线性度测量分辨率: | 0.6nm (角隅反射镜) 0.3nm (平面反射镜) 0.1nm 可选 |
线性度测量精度: (20°±0.5°) 使用AUK时 (20°±0.5°) 真空中时 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
速度测量精度: | ±0.5ppm实测值 |
角度测量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
角度测量精度: | ±0.1ppm实测值 |
平面度测量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
平面度测量精度: | ±0.2%实测值 ±0.05 弧度/米运行距离 |
直线度测量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
直线度测量精度: | ±0.5%实测值,2m行程 ± 2.5%实测值,10m行程 |
垂直度测量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
垂直度测量精度: | ±0.5%实测值2m,± 0.5弧秒* ±2.5%实测值10m,± 0.5弧秒* |
数据接口: | 积分信号 32 Bit (实时时间) Dt ? 20 ns |
数据分析标准: | ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA |
工作环境: | 温度:15°C-30°C 湿度:<90%无冷凝 |
储存环境: | 温度:10°C-40°C 湿度:<95%无冷凝 |
应用光路图
以上为直线度测量示意图,包括水平方向直线度和垂直方向直线度
以上是平面度测量示意图
以上是垂直度测量示意图
以上是位移、线性度、速度、加速度、定位精度测量示意图
以上是对角测量示意图
以上是俯仰角测量示意图
以上是偏摆角测量示意图
以上是滚动角测量示意图
以上是回转台定位精度测量示意图
资料下载
耶拿尔双频激光干涉仪样本(中文).pdf
激光干涉仪说明书(中文).pdf